ガチョピンとは? ('00年度 杉本芳伸)


研究室でまず最初に行ったことは先輩の製作したイオンビームコントローラに 高耐圧抵抗2本(写真でレンガ色の円筒)を取り付けたこと。 その後イオン銃テスト中にイオン源コントローラが謎の故障。色々手をいれてみましたが、 原因が分からず、結局一から作り直しました。 最終的に回路は安定し、実験を行うことができました。

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図は、Ar+イオン(4keV)をSi試料に照射した際に 試料から放出される二次電子のエネルギー分布(イオン誘起二次電子放出)で、 SiからのLMMオージェ電子がはっきり観測されています。 このスペクトルは試料表面のSi原子からの放出電子と、 スパッタされて表面から放出されているSi原子からの放出電子が 重なったものとなっています。

2000年12月7〜8日に東京で開催された実用表面分析講演会に 平田さんと一緒に参加。写真左より、下藤、杉本。受け付けのアルバイトもしました。


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