走査型オージェ電子顕微鏡




本装置は、1996年10月に松下電工(株)評価技術研究所(材料分析グループ) より寄贈していただいたものです。最大倍率2万倍の走査型電子顕微鏡とオージェ 電子分光装置を組み合わせた仕様となっており、超高真空中(〜5x10-10Torr) での材料表面上の微小領域(〜50 nm)における元素組成を単原子層の百分の一の感度で 分析する事ができます。
(〜1980年、日本電子(株)社製。)



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