詳細につきましては担当者のページをご参照ください。
以上の実験に用いましたSiウエハは小野田宏氏(三菱電機)より御寄贈頂いたものです。
深く感謝申し上げます。
半導体デバイスに関する研究
表面における炭素ー水素反応素過程の研究
スパッタリング援用オージェ電子分光法による深さ方向分析
の高分解能化に関する研究
グロー放電発光分光分析装置の試作と
絶縁物分析(なぜ絶縁物分析か?)への応用
PC-UNIX ネットワークを利用した
遠隔測定制御データ共用技術(テレプレゼンス)に関する研究
(なぜ PC-UNIX か?)
シリーズその4、電子の原子散乱振幅
表面原子構造解析に関する研究
固体表面における電荷蓄積現象に関する研究
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